Курс посвящен спектральным динамическим расчетам в Femap, в которые входят спектральный анализ и анализ на случайное воздействие.
Спектральный анализ является приближенным методом определения пиковой реакции конструкции или узла на динамическое воздействие. Этот метод используется в гражданской технике для прогнозирования максимальной реакции оборудования зданий, подверженных воздействиям землетрясений; он также используется в аэрокосмической технике для прогнозирования максимальной реакции оборудования космических аппаратов, подверженных воздействиям ударных нагрузок при разделении ступеней.
В практической части курса слушатели научатся генерировать ударный спектр и использовать его для вычисления динамического отклика конструкции в программном комплексе FEMAP with NX Nastran. Подробно рассматриваются способы комбинирования откликов в NX Nastran и даются практические рекомендации по их выбору.
Случайными называются колебания, которые можно описать только в статистической постановке. Примерами случайных колебаний являются: движение земной поверхности при землетрясениях, высота и частота следования океанских волн, пульсации давления в потоке, обтекающем самолет или высокое здание, акустическое воздействие шума ракетного или реактивного двигателя. Для описания этих случайных воздействий слушатели курса научатся задавать функцию спектральной плотности мощности в FEMAP и правильно анализировать выходные данные анализа.
Попробуйте Siemens Femap и познакомьтесь с самыми современными возможностями моделирования в пре-/постпроцессоре Femap вместе с вычислительными возможностями ведущего в отрасли решателя Simcenter Nastran.
Посмотрите, как эти комплексные приложения для моделирования и анализа могут помочь Вам сэкономить деньги и сократить время выхода изделия на рынок благодаря оптимизированным проектам, уменьшению числа прототипов и натурных испытаний.
По этой ссылке Вы получите доступ к полной версии Siemens Femap: Base Module с дополнительным модулем Dynamic Response. Нет ограничений по количеству сохранений, размерам моделей или другим факторам, которые ограничивают Вашу способность моделировать и анализировать готовые проекты изделий.